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用於檢查以下半導體製程設備中晶圓充電問題的產品與服務的領先供應商:離子植入器、光阻去除器、蝕刻器以及電漿沉積系統。
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Charm®-2 監視器晶圓
200、150、125、100 以及 75 mm |
ChargeMap® 軟體
與評估服務 |
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最後一次修改:2011 年 3 月 1 日